著錄信息
- 專利名稱：一種公差檢驗(yàn)卡尺
- 專利類型：發(fā)明
- 申請(qǐng)?zhí)枺?/em>CN201210225847.0
- 公開(公告)號(hào)：CN102749014B
- 申請(qǐng)日：20120703
- 公開(公告)日：20140723
- 申請(qǐng)人：蘇州路之遙科技股份有限公司
- 發(fā)明人：周榮,征茂德,諶清平,吳魏
- 申請(qǐng)人地址：215011 江蘇省蘇州市高新區(qū)向陽(yáng)路55號(hào)
- 申請(qǐng)人區(qū)域代碼：CN320505
- 專利權(quán)人：蘇州路之遙科技股份有限公司
- 洛迦諾分類：無(wú)
- IPC：G01B5/02
- 優(yōu)先權(quán)：無(wú)
- 專利代理機(jī)構(gòu)：南京縱橫知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32224
- 代理人：董建林
- 審查員：孫晶晶
- 國(guó)際申請(qǐng)：無(wú)
- 國(guó)際公開(公告)：無(wú)
- 進(jìn)入國(guó)家日期：無(wú)
- 分案申請(qǐng)：無(wú)
關(guān)鍵詞
直尺,固定套,游標(biāo)刻度,滑動(dòng)座,固定,游標(biāo),尺寸定位,公差,齒條,表盤,直尺長(zhǎng)度方向,調(diào)節(jié)器,對(duì)稱運(yùn)動(dòng),游標(biāo)卡尺,檢測(cè),桿體,卡尺,內(nèi)壁,鉗口,對(duì)稱,平整,兩側(cè),延伸,檢驗(yàn),檢查
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